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数显式叶片厚度仪/叶片厚度仪测量仪型号:SPTD-B的技术参数

更新时间：2026-09-20      浏览次数：9

数显式叶片厚度仪/叶片厚度仪测量仪型号:SPTD-B库号：M415836   查看hh

叶片厚度仪测量仪

型号：SPTD-B



显示：数显

量程：1-12.5mm，分辨率：0.001mm，精度：0.005mm

接触面积：直径10mm



仪器介绍：

叶片是植物的重要器guan，其形态变化可以反映出植物生长状态的变化，如光合作用、水分情况、养分情况等。研究表明，叶片厚度变化具有周期规律性，可分为长周期和短周期（24小时）。这些规律对研究植物水分状态具有重要意义。通常的灌溉系统是以空气的温度、湿度以及土壤的湿度作为控制参数，属于开环控制。针对这一问题，提出了以植物的器guan(叶片、茎杆、果实)的几何参数为控制参数的智*能节水灌溉控制系统，属于闭环控制。



SPTD-B叶片厚度仪具有、快速、高*效、方便等特点，应用于农科院、农业大学以及生命科学院等科研与教学机*构。



指标：

型 号 SPTD-B

读数方式 数显

量 程 1-12.5mm

分 辨 率 0.001mm

测量精度 0.005mm

接触面积 Φ10mm



测量指标：

叶片的厚度（单位：mm）

标准配置：

主机一个，仪器箱一个








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