数显立式光学计报价（被测件0～180mm，小示值0.1µm）型号:JDG-S2库号：M405347 查看hh
JDG-S2 数字式立式光学计
被测件0～180mm，小示值0.1µm一、用途
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量

产品型号：JDG-S2
厂商性质：经销商
更新时间：2024-11-26
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数显立式光学计报价数显立式光学计报价（被测件0～180mm，小示值0.1µm）型号:JDG-S2

库号：M405347 查看hh

JDG-S2 数字式立式光学计

被测件0～180mm，小示值0.1µm

一、用途
数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量。

主要参数
被测件*大长度： 200mm

直接测量范围： 10mm

小显示值： 0.1μm

测量力： (2±0.2)N

示值变动性： 0.1μm

大不准确度： ±0.25μm

读数方式：数字显示

大测量误差： ±(0.5+L/100)μm ，L是被测长度,以mm计

仪器体积： 300×170×410mm

仪器重量：18 kgs数字式立式光学计JDG-S2是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸。主要用于对五等量块，量棒，钢球，线形及平行平面状量具和零件的外形尺寸作测量，本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研，过程控制及在线测量等方面，对被测件作微小位移测量，及对非金属如：薄膜、纸张等的厚度测量

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