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紫外辐照计报价

​紫外辐照计报价(单通道) 型号:BB213-UV-A库号:M183080
紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、
以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作

  • 产品型号:BB213-UV-A
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2025-05-16
  • 访  问  量:1416
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产品详情

紫外辐照计报价紫外辐照计报价(单通道) 型号:BB213-UV-A库号:M183080

紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、

以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作

主要技术指标* 波长范围及峰值波长:(以下两种选其一)(1)探头:(375~475)nm,P=420nm

(2) 探头:(320~400)nm,P=365nm

辐照度测量范围:(0.1~200000) W/cm2

* 相对示值误差:±8%* 余弦特性(方向性响应)误差:10%* 线性误差:±1.5%

* 换档误差:±1%* 短期不稳定性:±1%(开机 30min 后)

* 误差:3%* 零值误差(满量程 FS):±1%

* 响应时间:1 秒

* 使用环境: 温度(0~40)℃,湿度<85%RH

* 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm,0.2kg

* 电源: 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只,

亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器

供电,整机功耗 < 0.1VA

紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、

以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作

主要技术指标* 波长范围及峰值波长:(以下两种选其一)(1)探头:(375~475)nm,P=420nm

(2) 探头:(320~400)nm,P=365nm

辐照度测量范围:(0.1~200000) W/cm2

* 相对示值误差:±8%* 余弦特性(方向性响应)误差:10%* 线性误差:±1.5%

* 换档误差:±1%* 短期不稳定性:±1%(开机 30min 后)

* 误差:3%* 零值误差(满量程 FS):±1%

* 响应时间:1 秒

* 使用环境: 温度(0~40)℃,湿度<85%RH

* 尺寸和重量:160mm×78mm×43mm,0.2kg

* 电源: 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只,

亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器

供电,整机功耗 < 0.1VA


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