变温霍尔效应测量仪报价（含安装培训，带电脑） 型号:CH-500H库号：M381636 高低温霍尔效应测试系统型号：CH-500H
本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件组成。

变温霍尔效应测量仪报价变温霍尔效应测量仪报价（含安装培训，带电脑） 型号:CH-500H库号：M381636   高低温霍尔效应测试系统型号：CH-500H

本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件组成。为本仪器系统专门研制的CH-320A效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。CH-320A可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性的工具。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

系统参数：

我们可提供各类霍尔效应测试系统用于教学和研究

可测试材料：

物理学参数：载流子浓度

（Carrier Density） 103cm-3 ～ 1023cm-3

迁移率（Mobility） 0.1cm2/volt*sec ～108cm2/volt*sec

电阻率范围（Resistivity） 10-7 Ohm*cm～1010 Ohm*cm

霍尔电压

（Hall voltage） 0.1uV ～ 10V

霍尔系数 10-3 ～ 105cm3/C

可测试材料类型：半导体材料 SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP,AlGaAs, HgCdTe和铁氧体材料等

低阻抗材料 石墨烯、金属、透明氧化物、

弱磁性半导体材料、TMR材料等

高阻抗材料 半绝缘的GaAs, GaN, CdTe等

材料导电粒子 材料的P型与N型测试

磁场环境：磁铁类型 可变电磁铁

磁场大小 600mT（极头间距为：45mm）

均匀区 1%

小分辨率 0.1Gs

可选磁环境 可根据客户需求定制相关磁性大小的电磁铁，

电学参数：电流源 1.00nA-1000.00mA

电流源分辨率 0.001nA

测量电压 0～±10V

电压测量分辨率 0.0001mV

温度环境：80K ～ 800K（高低温温度调节0.1K）

控温精度 小于0.05%F.S±1个字

其他配件：遮光性 外部安装遮光部件，使得测试材料加稳定

样品尺寸 10mm*10mm

箱式机柜 600*600*1000mm

测试样片 提供中国科学院半导体所霍尔效应

标准测试样片及数据：1套

（硅、锗、砷化镓、锑化铟）

制作欧姆接触 电烙铁、铟片、焊锡、漆包线等

仪器介绍：

如下表格为各个仪器的详细技术指标：

序号 名称 主要技术参数

仪器1 CH-100

电磁铁 1、磁场强度（Magnet Flux Density）

N，S 间距 10mm 时大磁场 1900mT

N，S 间距 20mm 时大磁场 1300mT

N, S 间距 30mm 时大磁场 900mT

N, S 间距 40mm 时大磁场 800mT

N, S 间距 45mm 时大磁场 600mT

3、磁场均匀区（Uniformity）：间隙 10mm 时直径 20mm 范围均匀度为 1%

3、电磁铁参数

3.1、极柱直径φ：100mm

3.2、极头直径φ：60mm

3.3、极头间隙可调范围：0 ～ 100mm

3.4、线圈内阻：10.0Ω

3.5、磁场稳定性：±0.3Gs（24h 时间内）

3.6、自重：110Kg

3.7、自带移动车轮，可根据客户需要随意变动放置位置

仪器2 CH-20045

恒流源 1、输出电压：输出电压范围 0V—±100V DC，

开路输出电压为 120V±8V @10A

2、输出电流：–10A ～ +10A DC（电流线性渐变速率 0.01A/s—2A/s 连续可选）

3、高步进分辨率 0.1mA（1/100000 F.S.）

4、准确度 ±（0.2%设置值+5mA）、

稳定度优于±0.1% @10A

5、噪声/纹波：10mA RMS 典型值 @10A

6、 RS-232 接口可数控极性转换，方便进行自动化试验过程

7、交互能力： 白色背光 FSTN LCD 显示器，的 LED 状态指示器，与显示器和指示器配合的3/4 键交互型功能键盘操作，标准配备 RS-232C计算机接口和易用的接口特性，完备的计算机接口命令集，扫描过程中的定时连续触发输出功能

8、负载保护功能：仪器掉电保护、仪器过温保护、仪器过流保护、仪器过功率保护。

仪器3 CH-1500

高斯计 1、量程：±0.1Gs ～ ±30kGs

2、分辨率：0.1Gs

3、精度：读数的±0.3%±0.05%量程

4、测磁传感器厚度为1.0mm，长度为100mm

5、人机交互：明亮的宽屏高清液晶屏，

4¾位显示，标准9针“D"型RS232连接器

6、自动化：完备的计算机指令，可通过数据通讯，实时在电脑界面监测并控制测试样品周围的磁场环境

仪器4 CH-320A

样品恒流源 1、电流输出基本分辨力0.001nA，电压测量基本分辨力0.0001mV

2、输出量程：1.00nA-1000.00mA中间可以0.001nA步进连续可调

3、测量电压：0～±10V大量程测试电压满足高阻芯片的测试

4、内置自动变换的四相阵卡，可实现霍尔效应范德堡法的自动测量

5、良好的人机交互界面，方便使用者进行手动调节

6、完备的上位机指令，可与电脑进行通讯完成各项操作

仪器5 恒源器

（高低温） 1、液氮恒温器温度测试范围：80K ～ 800K（测量速率达20次/秒）

2、测温精度：全量程范围内为0.1K（PT100 铂电阻）

3、测温方法：四引线电阻法

4、真空度：关闭阀门后可保持腔体内部小于0.1Pa

5、接插件：标准用DP6针插头和DP8针插头，其中6芯用于温度传感器，两芯用于加热器，剩余八芯测量线供使用者从恒温器连接到测量仪表，可自行定义。

仪器6 TC-202

控温仪 1、测控温温区：1.4 K--- 850 K（具体范围需依据使用温度计的型号而定）

2、控温误差：小于0.05%F.S ±1个字（可对温漂、时漂进行自动补偿）

3、分辨率：1/60000

4、加热功率输出：过零开断的位式调节，0-- 24V，大 2A滤波直流输出

5、可提供两路PID型温度控制，大输出功率为100W

仪器7 上位机软件 1、可实现一键自动化测量，检测开始后无需人员进行操作即可进行测量。

2、在软件中进行设置可进行自动变温测量。

3、软件中可进行I-V曲线、B-V曲线以及测量的各个半导体参数对于温度t的曲线图

4、软件内进行的模块化设计，方便客户使用以及进行相关功能的开发

5、实验结果测量完成，数据将暂时保存在软件中，如需要长期保存可将数据导出至EXCEL表格中，方便后期的数据处理

6、提供中国科学院半导体所霍尔效应标准测试样片及数据：1套

仪器 8 配套仪器装置 1、标准 600mm*600mm*1000mm（长*宽*高）箱式机柜，内置 6 芯插排，数量和功率均满足各使用仪器电源的同时使用要求

2、标准接口用 FX-8 型号机械真空泵，速度可达：3L/S

3、恒温器固定装置，带滑轨可实现恒温器带动样片的移动。

4、磁场传感器探头固定装置：全铝非导体支架5-70mm 可调

5、温度测量与控制连接线固定装置

6、制作样品上欧姆接触焊点的相应工具：电烙铁、铟片、焊锡、漆包线等

仪器 9 样品测试台 本套高低温霍尔效应测试系统中采用的是弹簧压针法固定样品，相对于以前焊接信号连接线方式加方便快捷。

常规夹持样品尺寸：10mm*10mm

大夹持样品尺寸为：16mm*16mm

小夹持样品尺寸为：1.5mm*1.5mm。