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便携式数字IC测试仪报价

便携式数字IC测试仪报价型号:TQ04-GUT-6000B库号：M394991
产品规格测试范围54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE量测种类约 1800 种
测试电压2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源

  • 产品型号：TQ04-GUT-6000B
  • 厂商性质：经销商
  • 更新时间：2022-11-02
  • 访  问  量：686
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产品详情
便携式数字IC测试仪报价便携式数字IC测试仪报价 型号:TQ04-GUT-6000B
库号：M394991   查看hh
midwest-group

产品规格
测试范围

54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类

约 1800 种
测试电压

2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间

高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤


产品规格
测试范围

54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类

约 1800 种
测试电压

2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间

高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤


产品规格
测试范围

54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类

约 1800 种
测试电压

2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间

高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤


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