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产品型号:
MN666-GM-X03
产品名称:
光学膜厚控制仪仪表报价
产品报价:
产品特点:
光学膜厚控制仪仪表报价 型号:MN666-GM-X03库号:M12664 真空镀膜,膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位
  MN666-GM-X03光学膜厚控制仪仪表报价的详细资料:
光学膜厚控制仪仪表报价
光学膜厚控制仪仪表报价
型号:MN666-GM-X03
库号:M12664   真空镀膜,膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
真空镀膜,膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。真空镀膜,膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。

采用进品高精密元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试,确保仪器具有可靠的质量和优越的性能。
高稳定性。操作简便,实用性强
技术参数:

GM-X03
主信号通道:电压单端输入
满程灵敏度:0.5mV~500mV
频率范围:1KHz,±5%
锁相噪声:≦4nV
线性误差:≦1%
零点漂移:0.2%(小时)
参考信号通道:电压单端输入
输入幅度:20mV~700mV
频率范围:1KHz,±5%
相位锁定范围:≧320°
电源电压:220VAC/50Hz
外形尺寸:宽482x高89x深322(mm)/标准2U面板
净重:7.5Kg
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